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太陽(yáng)光模擬器并不僅僅是一個(gè)模擬太陽(yáng)光的光源，它還包括了一整套的測(cè)試系統(tǒng)。太陽(yáng)電池是一種非線性元件，在電池/組件的性能進(jìn)行測(cè)試時(shí)，一般通過測(cè)試一整條IV曲線來判斷太陽(yáng)電池的性能。主要使用電子負(fù)載代替真實(shí)負(fù)載進(jìn)行IV曲線的測(cè)試。對(duì)于脈沖式太陽(yáng)模擬器，它僅有數(shù)十毫秒甚至幾毫秒的亞穩(wěn)態(tài)恒定光強(qiáng)，要在如此短的時(shí)間內(nèi)完成整條IV曲線的測(cè)試，這要求使用快速電子負(fù)載。
今天我們給大家講解下太陽(yáng)光模擬器的均勻度要求：
在測(cè)試平面上,規(guī)定測(cè)試區(qū)域內(nèi)的輻照度應(yīng)該達(dá)到一定的均勻度,輻照度用合適的探測(cè)器量測(cè)。等級(jí)A的輻照均勻度≤+/-2%,等級(jí)B的輻照均勻度≤+/-5%,等級(jí)C的輻照均勻度≤+/-10%。
對(duì)于單體電池和電池串的測(cè)試,探測(cè)器Z大尺寸應(yīng)小于電池***小尺寸的一半。
對(duì)于組件，探測(cè)器尺寸應(yīng)不大于組件中單體電池的尺寸。
不均勻度=+/-(Z大幅照度-***小輻照度)/(Z大幅照度+***小輻照度)*100%。
其中：Z大輻照度和***小輻照度是指在規(guī)定范圍內(nèi)探測(cè)器在任意規(guī)定點(diǎn)的測(cè)量值。
太陽(yáng)光模擬器的輻照穩(wěn)定度要求：
數(shù)據(jù)采集期間,輻照度應(yīng)該具有一定的穩(wěn)定度。等級(jí)A的穩(wěn)定度在≤+/-2%,等級(jí)B的穩(wěn)定度在≤+/-5%,等級(jí)C的穩(wěn)定度在≤+/-10%,輻照不穩(wěn)定度=+/-(Z大幅照度-***小輻照度)/(Z大幅照度+***小輻照度)*100%。
其中：Z大輻照度和***小輻照度是數(shù)據(jù)采集期間在測(cè)試平面內(nèi)探測(cè)器在任意規(guī)定點(diǎn)的測(cè)量值。
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